{"product_id":"ieej-zt042143","title":"マイクロストリップラインの非接触電流計測における信号遅延のFDTD解析と実験検証","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-143\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2004\/03\/17\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eFDTD analysis of time delay of currents in micro strip line under non-contact current measurement and its verification\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e内田 朝天(足利工業大学),土井 達也(足利工業大学),増田 則夫(日本電気)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTomohiro Uchida(Ashikaga Institute of Technology),Tatsuya Doi(Ashikaga Institute of Technology),Norio Masuda(NEC)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eFDTD|マイクロストリップライン|磁界プローブ|電流波形\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本稿では,マイクロストリップライン中の電流の非接触計測時に,磁界プローブ金属部がマイクロストリップライン中の電流波形に与える影響についてのFDTDシミュレーションを行なった。電流波形のシミュレーション結果から,磁界プローブ金属部がマイクロストリップラインの信号遅延に与える影響についての検討を行なった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e646 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46396604416239,"sku":"IEEJ-ZT042143-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_21b3357e-e0e7-4a8a-8563-40159094a70e.png?v=1744814493","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt042143","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}