{"product_id":"ieej-zt051080","title":"He-Xe混合ガスパルス放電のプローブ測定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-080\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/03\/15\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eProbe Measurement of Pulsed Glow Discharge in He-Xe Mixture\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e濱野 泰旭(日本工業大学),新井 一由(日本工業大学),森宮 脩(日本工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYasuaki Hamano(Nippon Institute of Technology),Kazuyoshi Arai(Nippon Institute of Technology),Osami Morimiya(Nippon Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究ではHe-Xe混合ガスパルス放電における電子温度及び電子密度の時間進展測定をダブルプローブ法とシングルプローブ法の双方から行いその測定結果の検討を行った。ダブルプローブ法では、パルス測定における対地容量の影響によりプローブの電位が浮遊電位からずれるのを制御し本来の浮遊電位相当の電圧を印加させて測定を行った。シングルプローブ法では、放電電流が発生中の任意の期間にだけプローブに電圧を印加できる回路を作成して測定を行った。測定結果として、両者が測定可能であった時間領域において電子温度、電子密度が共に類似した結果となった。このことにより両測定方法による測定結果に信頼性があることが確認できた。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e565 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46396784312559,"sku":"IEEJ-ZT051080-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_26f629a5-0f2d-46da-a869-9097768c44e1.png?v=1744820688","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt051080","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}