{"product_id":"ieej-zt054008","title":"pinダイオードの小電流動作モデル","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-008\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/03\/15\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSmall Current Operation Model of pin Diodes\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e高田 育紀(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eIkunori Takata(Mitsubishi Electric Corp. Advanced Technology A\u0026amp;D Center)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eダイオード|pin|動作理論|バンドギャップ・ナローイング|小電流\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003epnダイオードの小電流動作式として(1式)が知られている。(Np, Nn: p領域とn領域の不純物濃度) J?{q ni ni [Dh\/(Lh Nn)+De\/(Le Np) ]} exp(qV\/kT) (1) 今回、pinダイオードの簡明な小電流動作モデルを示す。(1式)に対応するものは(2式)となる。J?[kT ni ni (μh+μe)\/(Np Nn tp tn)^0.5] exp(qV\/kT) (2) 新しいモデルは、再結合がない場合もカバーしている。また、高不純物濃度によるバンドギャップ・ナローイングの影響も簡明な式で示す。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,444 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46396863611119,"sku":"IEEJ-ZT054008-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_15237752-362e-4651-8783-baffd4e8e9c2.png?v=1744823794","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt054008","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}