{"product_id":"ieej-zt057099","title":"低インピーダンス型開閉インパルス電圧校正器の開発","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e7-099\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2005\/03\/15\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDevelopment of Switching Impulse Voltage Calibrator for Low-Impedance Load\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e里 周二(宇都宮大学),小堀 直之(宇都宮大学),古山 拓哉(宇都宮大学),原田 達哉(日本工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eShuji Sato(Utsunomiya University),Naoyuki Kobori(Utsunomiya University),Takuya Furuyama(Utsunomiya University),Tatsuya Harada(Nippon Institute of Technology )\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e開閉インパルス電圧|MOS FET|低インピーダンス型\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e高インピーダンス負荷を想定した開閉インパルス電圧発生器は，波形解析プログラムの入力波形発生などの用途に必要である。しかし実際の分圧器などの低インピーダンス負荷がつながれた状態にも，標準波形を発生することができる校正器の必要性も見落とすことができない。筆者らは，このたび半導体スイッチを用いた250\/2500 impulseを発生させる低インピーダンス型開閉インパルス電圧発生器を製作した。校正器出力波形の波形パラメータを計算，測定の両面から求め，比較したところ，両者は極めて良く一致することを確認した。本論文では，その詳細を報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,445 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46396970041583,"sku":"IEEJ-ZT057099-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_baa2169b-caaf-4a77-8510-1544be86051a.png?v=1744828509","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt057099","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}