{"product_id":"ieej-zt062052","title":"エナメル線におけるサージ電圧特性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-052\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/03\/15\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSurge Characteristics on Enamelled Wires\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e貫洞 正明(東海大学),中村 祥一(東海大学),鵜澤 明弘(東海大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMasaaki Kando(Tokai University),Shoichi Nakamura(Tokai University),Akihiro Uzawa(Tokai University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eエナメル線|ツイストペア|方形波\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e先進国においてはIT化により情報通信機器の普及、途上国においては電力網の敷設、電子機器の普及が著しい速度で進んでいる。これらの機器は外部雑音（開閉サージ、雷サージ、スイッチング回路から発生するパルス性過渡的過電圧など）による劣化性能の低下が考えられる。一般に外部雑音は減衰振動波形を示すので、十分な劣化評価をするに至っていない。よって、機器の性能を向上させるためには信頼性の高い絶縁劣化評価が必要である。そこでデジタル的に制御されている機器に用いられるエナメル線の絶縁性能を方形波電圧を用いて行ったのでその結果を報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e796 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46397069754607,"sku":"IEEJ-ZT062052-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_0be1a779-50e3-4168-84c8-196d1ea60c82.png?v=1744830339","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt062052","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}