{"product_id":"ieej-zt063014","title":"ファイバー干渉系による簡易歪み計測","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e3-014\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2006\/03\/15\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSimple distortion measurement using fiber interferometer\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e泉 啓人(帝京科学大学),鉄井 俊宏(帝京科学大学),永沼 充(帝京科学大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHiroto Izumi(Teikyo University of Science and Technology),Toshihiro Tetsui(Teikyo University of Science and Technology),Mitsuru Naganuma(Teikyo University of Science and Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eレーザー|干渉|光ファイバー\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e半導体レーザーの干渉を利用することによりサブナノメータからミリメータオーダーの変位検出を簡単に行うことができ、多くの手法が提案されている。我々は、2つの光波を混合して用いることにより、光波の波長から差周波に対応するミリ波の波長のオーダーまで同時に計測可能なことを示し、光源周波数を変調することにより光路の実長を求めることができることも示した。一方、ファイバー干渉系を用いることによりファイバーの物理的特性を介して様々な情報を得ることができる。本稿では被測定点に簡単なファイバー干渉系を組み、アームの一方のファイバーに引っ張りひずみを加えて干渉波形を観測した。予備的な実験結果について報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e816 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46397086335215,"sku":"IEEJ-ZT063014-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a3af2928-2b9a-4324-9201-2ff40609fe9d.png?v=1744831121","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt063014","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}