{"product_id":"ieej-zt072033","title":"イオンマイグレーション発生前の電極表面に生じるナノスケールの兆候","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-033\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/03\/15\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eThe signs of nanoscale caused on the electrode surface before ionic migration\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e中井戸 宙(秋田大学),水戸部 一孝(秋田大学),吉村 昇(秋田大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHiroshi Nakaido(Akita University),Kazutaka Mitobe(Akita University),Noboru Yoshimura(Akita University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eイオンマイグレーション|原始間力顕微鏡\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年、通信機器やコンピュータ等の電子回路の集積化・小型化に伴い、イオンマイグレーション（IM)によるプリント配線板の絶縁信頼性の低下が問題となる。本研究はIMの加速試験として温湿度定常試験を用い、IM発生前の電極表面に生じるナノスケールの兆候を明らかにすることを目的としており、原子間力顕微鏡（AFM）を用いて、IM発生前のプリント配線板の電極表面をAFMにより測定・解析し、三次元形状の経時変化を明らかにする。計測部位は試料のアノードおよびカソード電極であり、試験前、試験後の電圧印加・無印加の3つの条件における試料を計測した。さらに、表面平均粗さ(Ra)を算出し、各条件におけるRaの差違を比較検討した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e816 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46397234413807,"sku":"IEEJ-ZT072033-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_82cf90fc-9f83-419e-8707-ae9a841f5a0c.png?v=1744838471","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt072033","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}