{"product_id":"ieej-zt074008","title":"パワーエレクトロニクス制御用ICのノイズ印加耐量試験","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-008\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/03\/15\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eExperimental Study on a Noise Resistivity of the ASIC for Power Electronics Application\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e服部 達哉(東京都立大学),和田 圭二(東京都立大学),清水 敏久(東京都立大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTatsuya Hattori(Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada(Tokyo Metropolitan University),Toshihisa Shimizu(Tokyo Metropolitan University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eASIC|サージ耐量\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年，DSPやFPGAやマイコン等のICによるパワーエレクトロニクス制御信号のディジタル化が一般化している。しかし，パワーデバイスのスイッチングの高速化に伴い，制御ICに加わる過電圧ノイズが増加し，ICの動作信頼性に深刻な影響を及ぼしている。本稿では，パワーエレクトロニクス用途のASICを高信頼化することを目的として，過電圧ノイズを擬似的に生成し，ASICに直接印加し，ASICのノイズ耐量試験を行ったので，その結果を報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e757 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46397261316335,"sku":"IEEJ-ZT074008-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_338a7e57-f6c7-4823-a761-ccfafe343651.png?v=1744840491","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt074008","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}