{"product_id":"ieej-zt076210","title":"瞬時電圧低下影響の高精度評価のための一分析手法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-210\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/03\/15\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAn analysis technique for highly precise evaluation of voltage dip influence\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e阪下 忠(東北大学),阿部 敏巳(東北大学),田中 和幸(東北大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003etadashi sakashita(Tohoku University),toshimi abe(Tohoku University),kazuyuki tanaka(Tohoku University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e瞬時電圧低下|対称座標法|累積分布\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年情報化の進展やハイテク機器の普及で、雷を主因とするわずかな時間の電圧低下（以下瞬低）に敏感な機器が増えており、問題が深刻化している。瞬低を受ける程度は送電線への電撃頻度や電力系統構成が分かれば推定できる。これまで幾つかの提案が行われている。しかし、そうした手法では、故障位置がノード上に限定、あるいは対象送電線が単純であるなど、我が国で一般的な2回線送電線に対しては適用できない欠点がある。そこで本研究は2回線送電線を対象として、また送電線上の種々の故障に起因する瞬低影響の高精度分析手法を提案する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,688 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46397330456815,"sku":"IEEJ-ZT076210-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_78ba4138-4177-4e36-8e3d-672cf1d5f0aa.png?v=1744844260","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt076210","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}