{"product_id":"ieej-zt077125","title":"275kV送電用全面導電釉がいし連の経年劣化特性の研究","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e7-125\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2007\/03\/15\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAgeing Test Results of Semiconducting Glaze Insulator Strings for 275-kV Transmission Lines\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e水野 卓矢(中部大学),武藤 篤史(中部大学),吉川 将基(中部大学),松浦 毅明(中部大学),川口 敏幸(中部大学),松岡 良輔(中部大学),熊谷 誠治(秋田県立大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakuya Mizuno(Chubu University),Atsushi Muto(Chubu University),Masaki Yoshikawa(Chubu University),Takaaki Matsuura(Chubu University),Toshiyuki Kawagushi(Chubu University),Ryousuke Matsuoka(Chubu University),Seiji Kumagai(Akita Prefectural University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e全面導電釉がいし|送電|経年劣化\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e全面導電釉がいしは、優れた汚損フラッシオーバ電圧特性を示すが、表面の半導電性釉薬が徐々に劣化し、インピーダンスが高くなる。275kV級がいし連について、連結個数を変え、人工加速劣化試験と屋外課電曝露試験により、長期劣化特性を調査している。今回、人工加速劣化試験900サイクルと屋外曝露試験5年経過後の調査結果を報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,571 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46397350838511,"sku":"IEEJ-ZT077125-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_2c39c7dc-21a8-4162-a406-a9e93f0ff084.png?v=1744845350","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt077125","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}