{"product_id":"ieej-zt081032","title":"放電電流波形によるボイド内部分放電の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-032\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/03\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAnalysis of Internal Partial Discharge Based on PD Current Waveform\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e七尾 健治(豊橋技術科学大学),村上 義信(豊橋技術科学大学),長尾 雅行(豊橋技術科学大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003ekenji Nanao(Toyohashi University of Technology),yoshinobu Murakami(Toyohashi University of Technology),masayuki nagao(Toyohashi University of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e部分放電|半値幅|ストリーマ|タウンゼント\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e高電圧機器の絶縁材料において、絶縁破壊の主な要因となる部分放電(以下、PD)を検出し、劣化診断を行うことは非常に重要である。絶縁劣化診断ではPDパターンが用いられているが、このPDパターン形成の物理モデルに関しては未解明な部分が多く、物理過程に基づいた検討が必要となる。これまでの研究から、正弦波半サイクル内の1発目放電により放電空間内に存在する電気陰性度の高い分子に電子が付着し、2発目以降の放電発生形態に影響を与えていることが示唆された。本研究では、上記1発目と2発目以降の放電発生状況を解明するため、印加電圧と周波数を変化させた方形波を用いて、1発目放電が2発目以降の放電に与える影響について更に検討を進めた。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e967 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46397358866671,"sku":"IEEJ-ZT081032-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_2ccabe33-ddc6-4afb-aa02-9ebac9f8afd2.png?v=1744845964","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt081032","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}