{"product_id":"ieej-zt082002","title":"ナノ複合エナメル線の繰り返しサージ電圧下における部分放電特性の推移","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-002\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/03\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eTransition of Partial Discharge Characteristics of Nanocomposite Enameled Wire under Repetitive Surge Voltage Condition\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e中村 勇介(名古屋大学),稲野 宏(名古屋大学),早川 直樹(名古屋大学),廣島 聡(東芝),広瀬 達也(東芝),浜口 昌弘(東芝),大久保 仁(名古屋大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYusuke Nakamura(Nagoya University),Hiroshi Inano(Nagoya University),Naoki Hayakawa(Nagoya University),Satoshi Hiroshima(Toshiba Corporation),Tatsuya Hirose(Toshiba Corporation),Masahiro Hamaguchi(Toshiba Corporation),Hitoshi Okubo(Nagoya University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eインバータサージ|ナノ複合エナメル線|部分放電\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究では，インバータサージ電圧に対するナノ複合エナメル線の部分放電(PD)劣化抑制メカニズムの解明を目的としている．本報においては，ナノ複合エナメル線の侵食過程におけるPD特性の時間推移を取得した．その結果，繰り返しサージ電圧の印加に伴うPDの下で，ナノ複合エナメル線の侵食はある期間において停滞し，絶縁破壊に至るまでの寿命が向上することがわかった．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e706 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46397381640431,"sku":"IEEJ-ZT082002-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_4c0a85c0-66e6-4fa8-a01e-55e70bace5b1.png?v=1744847152","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt082002","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}