{"product_id":"ieej-zt082085","title":"イオンマイグレーションにおける析出物質量分布の実時間計測","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-085\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/03\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eReal Time Measurements of the Distribution of Dendrite Mass in Ion Migration Phenomenon.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e水戸部一孝 (秋田大学),中井戸 宙 (秋田大学),勝間裕嗣 (秋田大学),吉村 昇 (秋田大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eイオンマイグレーション|プリント配線板|デンドライト|絶縁信頼性|軟X線|WDT\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究では，イオンマイグレーションにおけるデンドライト等の析出物の二次元的な発生分布の経時変化を明らかにすることを目的とし，加速試験法である脱イオン水滴下試験（WDT）法によりプリント配線板の結露を模擬し，IMの進行過程で発生する析出物の質量を実時間で計測する実験系を構築した。本研究では，軟X線が析出物の質量に比例して吸収されることを利用し，析出物の実時間計測システムを構築した。その結果，顕微鏡ではアノード?カソード間に均等に分布して見える析出物がカソード側で薄く，アノード側で厚く堆積していることが軟X線吸収画像（質量分布図）により明らかになった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e652 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46397389078767,"sku":"IEEJ-ZT082085-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_4d522fa9-7f71-4f47-ba27-5c359cfb9687.png?v=1744847541","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt082085","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}