{"product_id":"ieej-zt082138","title":"回路共振を用いたNiFe薄膜パターン交流磁化率変調測定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-138\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/03\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDetection of field induced susceptibility modulation for NiFe pattern with circuit resonance\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e張 明(九州大学),吉村 哲(九州大学),能崎 幸雄(九州大学),松山公秀 (九州大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMing Zhang(Kyushu University),Satoru Yoshimura(Kyushu University),Yukio Nozaki(Kyushu University),Kimihide Mastuyama(Kyushu University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e磁性薄膜ドットパターン|交流磁化率|回路共振\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究は軟磁性薄膜の微小交流磁界に対する磁化率が，直流バイアス磁界により変調可能であることに着目し，回路共振を利用した薄膜交流磁化率の高感度検出実験を行った．今回，素子の微細化の観点から，軟磁性薄膜パターンにおける交流磁化率の測定を行い，その結果を報告する．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,223 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46397401792751,"sku":"IEEJ-ZT082138-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a163723c-979e-4c0b-91e1-c7a31ae520a7.png?v=1744847809","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt082138","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}