{"product_id":"ieej-zt082142","title":"低周波磁気イメージングシステムによるステンレス溶接欠陥の非破壊検査","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-142\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成20年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2008\/03\/19\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eNondestructive evaluation of weld defect in stainless-steel by using low frequency magnetic imaging system\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e林 孝之(岡山大学),山田 博信(岡山大学),紀和 利彦(岡山大学),玉積正司 (宇野工業),塚田 啓二(岡山大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakayuki Hayashi(Okayama University),Hironobu Yamada(Okayama University),Toshihiko Kiwa(Okayama University),Masaji Tamazumi(Uno Kogyo Corp),Keiji Tsukada(Okayama University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e低周波磁気|MRセンサ|ステンレス溶接|多層構造|非破壊検査\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e溶接欠陥を有するステンレス溶接部に対して，低周波磁界を印加した際の磁気的応答を，MRセンサにより計測・マッピングすることにより，溶接欠陥を非破壊で検出する．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e946 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46397402218735,"sku":"IEEJ-ZT082142-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_bbd8b15f-5d2a-45bd-8e30-b285b0961f38.png?v=1744847846","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt082142","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}