{"product_id":"ieej-zt112138","title":"うず電流探傷技術を用いたPCB検査における傷抽出のための計測と画像処理","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-138\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eMeasurement and Image Processing for Defect Detecting in PCB Inspection Using Eddy Current Testing\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e山中亮史 (金沢大学),井波孝仁 (金沢大学),山田外史 (金沢大学),池畑芳雄 (金沢大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eうず電流探傷|高速化|プリント基板検査|画像処理\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eうず電流探傷法を用いたプリント基板検査法について，信号の高速取得の一手法について検討した．今回作成した計測機器ではプローブを計測点ごとに停止させずとも計測可能であることを確認し，計測時間を十数分の一に短縮することができた．また，画像処理を行うことによって，高速化を実現しながら，探傷に成功した．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,509 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46398739218671,"sku":"IEEJ-ZT112138-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_112ff263-de60-41e7-a12a-057b08993992.png?v=1744877625","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt112138","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}