{"product_id":"ieej-zt113003","title":"高周波アンプのロバスト設計","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e3-003\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Robust Parameter Design Methodology for a RF Power Amplifier\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e中川 隆文(三菱電機),桐越 祐(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakafumi Nakagawa(Mitsubishi Electric Corp.),Tasuku Kirikoshi(Mitsubishi Electric Corp.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eRFアンプ|ロバスト設計|品質工学\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e製造バラツキや素子の特性のバラツキなどの誤差因子を考慮するため、品質工学で用いられるロバスト性の評価指標を導入し、利得のロバスト性と目標性能を同時に考慮してトポロジーが固定された高周波アンプの回路定数を決定した結果について報告する．本方法では、設計値の組み合わせはモンテカルロ法で選び、誤差因子の影響は直交表で組み合わせて与える．最悪値が目標性能を満足しばらつきが最小になる設計値を次の計算の初期値とし計算を繰り返す．1回目は設計領域を荒く探索し、2回目以降は探索範囲を狭めて行く．こうして繰り返し計算することにより、従来の方法に比べてロバストな設計が可能になる．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,110 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46398741643503,"sku":"IEEJ-ZT113003-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_27109217-9f4d-4928-95bc-f7fc147c9378.png?v=1744877783","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt113003","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}