{"product_id":"ieej-zt116251","title":"フリーリカバリ状態における高分子材アブレーションアークの温度場解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-251\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eNumerical Prediction of Temperature Decay of Polymer Ablation Arcs under Free Recovery Condition\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e堀川 洋平(金沢大学),竹澤幸大 (金沢大学),田中 康規(金沢大学),上杉 喜彦(金沢大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYohei Horikawa(Kanazawa University),Yukihiro Takezawa(Kanazawa University),Yasunori Tanaka(Kanazawa University),Yoshihiko Uesugi(Kanazawa University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eアーク|高分子材|アブレーション|フリーリカバリ\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e遮断器では，電流遮断時にアークが発生し，その熱や放射などにより高分子材料の溶発を引き起こす。この溶発現象が，アーク遮断に大きな影響を与える。しかし，溶発現象によるアーク遮断への影響およびアークの消滅過程は複雑であり，物理的視点から未だ完全に解明されていない。本稿では，片側密閉型アーク装置を想定して電磁熱流体解析モデルを行い，電流をステップ的に50 Aから0 Aとしたフリーリカバリ状態におけるアーク温度場の変化を計算して，各高分子材料間での相違を検討した。その結果, PA6(ナイロン6)はPOM(デルリン)およびPTFE(テフロン)より温度減衰割合が大きく，アーク消弧能力が高いことが予想される。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,155 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46398952636655,"sku":"IEEJ-ZT116251-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_a194a9fe-1f8f-48a9-a0e3-e5f443394892.png?v=1744882620","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt116251","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}