{"product_id":"ieej-zt116268","title":"真空中のCuCr接点の耐電圧性能に及ぼすCr含有量の影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-268\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eInfluence on Breakdown Performance of CuCr Contact in Vacuum\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e塩入 哲(東芝),佐々木 遥(東芝),浅利 直紀(東芝),佐藤純一 (東芝),捧 浩資(東芝),竹井 義博(東芝),鈴木 克巳(東芝),本間三孝 (東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTetsu Shioiri(Toshiba Corporation),Yo Sasaki(Toshiba Corporation),Naoki Asari(Toshiba Corporation),Junichi Sato(Toshiba Corporation),Kosuke Sasage(Toshiba Corporation),Yoshihiro Takei(Toshiba Corporation),Katsumi Suzuki(Toshiba Corporation),Mitsutaka Homma(Toshiba Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e真空|絶縁破壊|CuCr接点\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e真空中のCuCr接点のCr含有量と無負荷開閉後の耐電圧の関係を調査し、Cr含有量が多い程耐電圧性能が高くなることを明らかにした。この結果をもとにCr25wt%とCr35wt%のCuCr接点を84kVクラスの実機真空バルブに適用し絶縁回復特性を比較した。Cr35wt%の方が絶縁回復特性が高くなり、進み小電流遮断性能が向上するものと考えられる。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e683 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46398959255791,"sku":"IEEJ-ZT116268-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_2782b98e-1aa8-4b75-b231-2cf8796a8e9a.png?v=1744882790","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt116268","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}