{"product_id":"ieej-zt116269","title":"真空中におけるＣｕＣｒ接点のＣｒ含有量が突入電流後の絶縁性能に及ぼす影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-269\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eInfluence on Breakdown Performance after Inrush Current on CuCr Contact in Vacuum\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e佐藤純一 (東芝),塩入 哲(東芝),浅利 直紀(東芝),久保田 信孝(東芝),捧 浩資(東芝),竹井 義博(東芝),鈴木 克巳(東芝),栗山 透(東芝),本間三孝 (東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eJunichi Sato(Toshiba corporation),Tetsu Shioiri(Toshiba corporation),Naoki Asari(Toshiba corporation),Nobutaka Kubota(Toshiba corporation),Kosuke Sasage(Toshiba corporation),Yoshihiro Takei(Toshiba corporation),Katsumi Suzuki(Toshiba corporation),Toru Kuriyama(Toshiba corporation),Mitsutaka Homma(Toshiba corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e真空バルブ|ＣｕＣｒ接点|絶縁破壊|突入電流|真空遮断器\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本論文は、真空バルブに適用されているＣｕＣｒ接点のＣｒ含有量を変化し、突入電流後の耐電圧性能を調査した結果について述べる。Ｃｒ含有量が多いほど耐電圧性能が向上することを報告した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e728 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46398959288559,"sku":"IEEJ-ZT116269-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_6989b294-d863-45c5-86b9-f4ee29e02c4a.png?v=1744882794","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt116269","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}