{"product_id":"ieej-zt116271","title":"モンテカルロ法を利用した真空接点の消耗量計算","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-271\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eComputational prediction of vacuum contact erosion using Monte Carlo method\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e道念 大樹(三菱電機),月間 満(三菱電機),越智 聡(三菱電機),古賀 博美(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTaiki Donen(Mitsubishi Electric),Mitsuru Tsukima(Mitsubishi Electric),Satoshi Ochi(Mitsubishi Electric),Hiromi Koga(Mitsubishi Electric)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e真空バルブ|接点消耗量|モンテカルロ法\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e真空バルブの寿命を決定する要因の一つに、電流開閉に伴う接点消耗がある。接点消耗量には、遮断回数だけでなく、遮断電流波形や開極位相など種々の要因が関与し、全条件での消耗量を実験的に決定することは困難である。今回、モンテカルロ法を利用した接点消耗量計算を実施し、実測結果との整合性を調べると共に、遮断電流の周波数を変化させた場合の影響を計算したので、報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e802 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46398959452399,"sku":"IEEJ-ZT116271-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_46fcad7a-0e34-4b14-99d3-5ec15aea7950.png?v=1744882800","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt116271","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}