{"product_id":"ieej-zt116288","title":"複母線ループ電流開閉用電路器のサンプリング調査","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-288\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成23年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2011\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSample Investigation of DS for Switching Buses of 275kV GIS\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e高橋 一嘉(中部電力),吉川 勇治(中部電力),田中 博吉(中部電力),田上 勝(中部電力),副島 浅信(中部電力),川村 健(中部電力),川田 牧子(三菱電機),小野 幸男(三菱電機),伊東啓太 (三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKazuyoshi,Takahashi|Yuuji,Yoshikawa|Hiroyoshi,Tanaka|Masaru,Tanoue|Asanobu,Soejima|Takeshi,Kawamura|Makiko,Kawada|Yukio,Ono|Keita,Ito\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eサンプリング調査|275kVGIS用断路器|コンタクト損耗|銀めっき|摩耗|コンタクトグリース\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eｶﾞｽ遮断器については，これまでの研究によりｶﾞｽ中摺動部およびｶﾞｽ中ｸﾞﾘｰｽ等の劣化が寿命決定要因となることを確認してきた。一方，GIS用断路器では，内部開放点検や劣化調査の例が少ないため，筆者らは，77kVGIS用断路器の内部開放点検（経過年数29年，動作回数300回程度）を行い，機器構成部品毎の劣化状況を調査してきた。今回，275kVGISで，系統切替等で複母線ﾙｰﾌﾟ電流開閉を比較的多く行う断路器（経過年数31年，動作回数900回程度）について，内部開放点検により、ｺﾝﾀｸﾄおよびｺﾝﾀｸﾄｸﾞﾘｰｽの劣化状況を調査したので報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,656 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46398973935855,"sku":"IEEJ-ZT116288-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_ff341cfb-1d98-4331-9535-afaa1e148823.png?v=1744883102","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt116288","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}