{"product_id":"ieej-zt121021","title":"RF絶縁破壊特性による電子ドリフト速度決定法の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-021\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eStudy of Determination of Electron Drift Velocity based on Parallel Plate RF Breakdown\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e佐々木 典彦(仙台高等専門学校),野角光治 (仙台高等専門学校),中村 富雄(仙台高等専門学校),内田 裕(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eNorihiko Sasaki(Sendai National College of Technology),Mitsuharu Nogaku(Sendai National College of Technology),Tomio Nakamura(Sendai National College of Technology),Yutaka Uchida(Toshiba)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eRF放電|絶縁破壊|電子ドリフト速度\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e高換算電界下における電子ドリフト速度の決定法として平行平板RF絶縁破壊特性（破壊時の電圧と圧力の関係性）を利用する方法（破壊特性法）がLisovskiy等によって提案されている。この方法は、RF破壊特性に現れる折り返し点において、電子の集団的ドリフト運動の振幅が電極間距離の半分になることを利用したものであるが、その表式には、電子の電極表面における反射などの情報は現れない。一方、我々は、以前からRF絶縁破壊のモンテカルロシミュレーション（MCS）を行ってきた。そこで、今回、電極での反射率を変えつつMCSを行い、破壊特性法を用いて得られる電子ドリフト速度への反射率の影響を調べたので報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e202 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46399458935023,"sku":"IEEJ-ZT121021-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_41885461-ddf7-41f4-9d1b-8d84e69d6473.png?v=1744898906","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt121021","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}