{"product_id":"ieej-zt122034","title":"熱劣化架橋ポリエチレンの劣化診断(I)機器分析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-034\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDiagnosis of Thermal Degradation of Cross-linked Polyethylene (?) Instrumental Analyses\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e山田敏太(早稲田大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eToshita Yamada|Marina Komatsu|Ryo Sato|Yoshimichi Ohki|Maya Mizuno|Kaori Fukunaga\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eX線回折|示差走査熱量分析|赤外吸収|架橋ポリエチレン|熱劣化|酸化\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e ケーブルの高分子絶縁材料は、高温環境下で熱劣化する。化学架橋ポリエチレン（XLPE）を185℃で25~200時間加熱し、X線回折（XRD）、示差走査熱量分析（DSC）、赤外吸収を利用し機器分析測定を行った。XRDスペクトルから結晶化度、赤外吸収スペクトルから酸化度をそれぞれ算出し、加熱時間増加に伴う結晶化度低下と酸化度上昇を確認した。両者を比較した処、結晶化度と酸化度は負の相関を示した。また、DSCスペクトルも結晶化度低下の事実を明確にしている。このことからXLPEを加熱すると、酸化が進行し、結晶性が著しく低下することが認められた。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e10,855 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46399454085359,"sku":"IEEJ-ZT122034-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_cb3d98f4-9881-4b91-98dc-790818244c07.png?v=1744898836","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt122034","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}