{"product_id":"ieej-zt122035","title":"熱劣化架橋ポリエチレンの劣化診断(II)テラヘルツ分光","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-035\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDiagnosis of Thermal Degradation of Cross-linked Polyethylene (?I) Terahertz Spectroscopy\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e小松 麻理奈(早稲田大学),山田 敏太(早稲田大学),佐藤 遼(早稲田大学),水野 麻弥(情報通信研究機構),福永 香(情報通信研究機構)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMarina Komatsu(Waseda University),Toshita Yamada(Waseda University),Ryo Sato(Waseda University),Maya Mizuno(National Institute of Information and Communications Technology),Kaori Fukunaga(National Institute of Information and Communications Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eテラヘルツ光|ケーブル絶縁材料|架橋ポリエチレン|熱劣化|酸化|絶縁診断\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eケーブルの高分子絶縁材料は、高温環境下で熱劣化する。化学架橋ポリエチレンを185 ℃で25~200時間加熱し、テラヘルツ時間領域分光透過法とフーリエ変換型テラヘルツ分光光度計で20~600 cm\u003csup\u003e-1\u003c\/sup\u003eにおける吸収スペクトルを測定し、種々の機器分析測定結果と比較した処、48cm\u003csup\u003e-1\u003c\/sup\u003eの誘電損率ピークが試料の酸化により増大することが確かめられた。このことは高分子の熱劣化が、テラヘルツ分光により検出できる可能性を示唆している。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e3,708 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46399509332207,"sku":"IEEJ-ZT122035-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_871b67eb-f0d9-4fc6-9781-5a5158192fbe.png?v=1744899763","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt122035","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}