{"product_id":"ieej-zt122123","title":"中間周波数帯の磁界曝露による遺伝子の損傷評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-123\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEvaluation of Damage in DNA Molecules Caused by IF Magnetic Field Using Bacterial Cells\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e福井 健介(東北学院大学),遠藤銀郎 (東北学院大学),宮内 啓介(東北学院大学),芳賀 昭(東北学院大学),松木 英敏(東北大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKensuke Fukui(D. of Eng. Graduate School of Tohoku Gakuin Univ.),Ginro Endo(D. of Eng. Graduate School of Tohoku Gakuin Univ.),Keisuke Miyauchi(D. of Eng. Graduate School of Tohoku Gakuin Univ.),Akira Haga(D. of Eng. Graduate School of Tohoku Gakuin Univ.),Hidetoshi Matsuki(Graduate School of Biomedical Eng. Tohoku Univ.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e磁界影響|中間周波数|遺伝子|DNA損傷|磁界曝露\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e中間周波数帯の磁界に着目し、それが人体にどのような影響を与えるかをDNAの損傷程度を発光によって検知出来る大腸菌の変異株を用いて、直接その菌に対して磁界を曝露することによって評価する。DNAの損傷をその修復過程において発光タンパク質を生成する変異株を大腸菌に形質転換し、大腸菌に対して磁界曝露を行い、発光強度を測定する。曝露時間が30分の場合は結果の差が大きいが2時間では差が小さく安定した。曝露時間2時間の場合に1.2倍程度の差が現れるがそれは確実に磁界影響とは言い切れない。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,844 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46399535546607,"sku":"IEEJ-ZT122123-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_73e8d472-66ef-4335-af8c-753e6e1458c2.png?v=1744900128","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt122123","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}