{"product_id":"ieej-zt124190","title":"高温超電導SQUIDセンサを用いた磁性材料の非破壊検査装置の開発","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-190\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDevelopment of non-destructive evaluation system using an HTS-SQUID sensor for magnetized materials\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e河野丈治 (国際超電導産業技術研究センター),塚本 晃(国際超電導産業技術研究センター),安達 成司(国際超電導産業技術研究センター),押久保 靖夫(国際超電導産業技術研究センター),波頭経裕 (国際超電導産業技術研究センター),田辺 圭一(国際超電導産業技術研究センター),畑 潔(中国電力),小川 明宏(中国電力),石川 文雄(中国電力)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eJoji Kawano(SRL\/ISTEC),Akira Tsukamoto(SRL\/ISTEC),Seiji Adachi(SRL\/ISTEC),Yasuo Oshikubo(SRL\/ISTEC),Tsunehiro Hato(SRL\/ISTEC),Keiichi Tanabe(SRL\/ISTEC),Kiyoshi Hata(The Chugoku Electric Power CO.,INC.),Akihiro Ogawa(The Chugoku Electric Power CO.,INC.),Fumio Ishikawa(The Chugoku Electric Power CO.,INC.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e高温超電導|SQUID|非破壊検査|磁性材料\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e超電導磁気センサSQUIDは低周波においても高い感度を有するため、これを渦流探傷技術と組み合わせて作製した非破壊検査システムは、深部欠陥検査に適している。しかしながら、従来のSQUID非破壊検査システムでは、測定対象が0.1 mT程度以上の磁気を帯びると、SQUIDセンサが正常動作しなくなるという問題があった。今回、表面磁化のSQUIDセンサへの影響を低減する目的で、銅ピックアップコイルを用いた非破壊検査システムを開発した。銅ピックアップコイルを磁気シールド中に配置したSQUIDセンサに外付けする方式を採用することにより、試験対象の表面が10 mT程度帯磁した状況でも正常な測定が可能となった。新型SQUID非破壊検査システムは、これまで測定が困難とされた鉄系磁性金属材料の内部欠陥探査への適用が期待できる。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e517 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46399565463791,"sku":"IEEJ-ZT124190-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_d99b9b4f-dce5-4a70-96a6-af4dedcf1dfc.png?v=1744901078","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt124190","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}