{"product_id":"ieej-zt126292","title":"真空中におけるCuCr接点のCr含有量がコンデンサ開閉性能に及ぼす影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-292\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eInfluence on Capacitor Bank Switching Performance of CuCr Contact in Vacuum\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e佐藤純一 (東芝),宮里 健一(東芝),捧 浩資(東芝),栗山 透(東芝),本間三孝 (東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eJunichi Sato(Toshiba corporation),Kenichi Miyazato(Toshiba corporation),Kosuke Sasage(Toshiba corporation),Toru Kuriyama(Toshiba corporation),Mitsutaka Homma(Toshiba corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e真空バルブ|CuCr接点|コンデンサ開閉\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本論文は、真空バルブで使用されるCuCr接点のCr含有量を変化させ、コンデンサ開閉性能の影響を調査したものである。Cr25mass%とCr35mass%の2種類の接点を用い、500回のコンデンサ開閉試験とその前後の耐電圧試験を実施して、その性能を比較検証した。その結果、Cr35mass%のほうが接点の損傷が小さく、コンデンサ開閉性能が優れていることが分かった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e920 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46399157207279,"sku":"IEEJ-ZT126292-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_fdb0e350-3e70-4f4a-814e-69f0a023f704.png?v=1744889265","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt126292","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}