{"product_id":"ieej-zt127117","title":"広帯域インピーダンス分光法によるビニルコードの導体間隔拡大箇所の位置標定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e7-117\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2012\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eLocation of a Portion in a PVC Cord with an Expanded Wire Distance by Broadband Impedance Spectroscopy\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e山田 貴之(早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakayuki Yamada(Waseda University),Naoshi Hirai(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e絶縁材料|ビニル平形コード|広帯域インピーダンス分光法|劣化診断|ケーブル|状態監視\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e塩化ビニル絶縁平形（VFF）コードの導体間を拡げた損傷に対して、広帯域インピーダンス分光（BIS）法の適用を試みた。インピーダンスアナライザを用いて、広い周波数域についてインピーダンス値、位相角をVFFコードの両端から測定し、取得データを内挿補間により測定点を増加させ、高速フーリエ逆変換（IFFT）することで損傷位置標定を行った。切り込みのない場合と比較して、インピーダンス値、位相角のIFFT結果ともに導体間隔拡大位置に明瞭なピークを確認することができる。特性インピーダンスを測定するBIS法は導体間を拡げたVFFコードに対しても損傷位置の標定が可能なことを確認した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e1,312 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46399640273135,"sku":"IEEJ-ZT127117-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_0ae8098c-724d-4f25-abb7-3efb94136be3.png?v=1744903340","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt127117","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}