{"product_id":"ieej-zt133106","title":"SiナノピンセットによるDNAのX線損傷の評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e3-106\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2013\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSi nanotweezers for DNA damage characterization under therapeutic radiation beams\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003eペレグレゴア (リール大学),ラコールヌリトーマ (リール大学),ラティーゴエリック (リール大学),クレリーファブリッツィオ (リール大学),久米村 百子(東京大学),ジャラベールロラン (東京大学),藤田 博之(東京大学),コラールドミニク (東京大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eGregoire Perret(Universite de Lille),Thomas Lacornerie(Universite de Lille),Eric Lartigau(Universite de Lille),Fabrizio Cleri(Universite de Lille),Momoko Kumemura(The University of Tokyo),Laurent Jalabert(The University of Tokyo),Hiroyuki Fujita(The University of Tokyo),Dominique Collard(The University of Tokyo)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eナノピンセット|DNA|X線治療\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eWe report the biomechanical characterization of a λ-DNA bundle exposed to a therapeutic radiation beam by Silicon Nanotweezers. The device endures the harsh environment of radiation beams and still retains molecular-level accuracy. This result paves the way for both fundamental and clinical studies of DNA degradation mechanisms under ionizing radiation for improved tumor treatment.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e392 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46399808176367,"sku":"IEEJ-ZT133106-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_56adab82-dd05-40ac-b441-5fee915ecac7.png?v=1744909517","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt133106","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}