{"product_id":"ieej-zt134205","title":"MT法診断による受配電設備寿命調査結果報告","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-205\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2013\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA report on the investigation results of equipment life (Deterioration diagnosis of insulator by MT method)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e岡澤 周(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eHiroshi Okazawa|Shinsuke Miki|Sonoko Umemura|Taketoshi Hasegawa|Yasushi Otsuka\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e絶縁物|余寿命推定|スイッチギヤ|診断\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e受配電設備で使用する絶縁物に対する余寿命推定技術「MT法診断」を2003年より市場製品に適用し，既に約2000配列の診断を実施している。その結果を分析し，受配電設備の寿命や劣化原因，劣化プロセスなどが解明されてきている。市場での製品寿命と製造側設計の製品寿命の考え方の違いも踏まえ，纏めた結果を報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e323 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46399679332591,"sku":"IEEJ-ZT134205-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_5f1c957e-81d8-4dc5-b189-1a558142bcc0.png?v=1744905016","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt134205","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}