{"product_id":"ieej-zt136211","title":"真空中の銅・クロム接点の長時間E－t特性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-211\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2013\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eLong Time E-t Characteristics for Copper-Chromium Contact in Vacuum\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e塩入 哲(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTetsu Shioiri|Naoki Asari|Junichi Sato|Kosuke Sasage|Junichi Ikeda\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e真空|絶縁破壊|V－t特性\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e真空絶縁による接地開閉器の絶縁信頼性を検討するために、接地開閉器の接点として用いられる銅・クロム接点の長時間E－t特性を調査した。真空絶縁の垂下係数nは55と67が得られた。。真空絶縁はエポキシ樹脂と比較すると、課電劣化しにくく、SF6ガスと同程度であることが明らかになった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e277 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46399757582575,"sku":"IEEJ-ZT136211-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_1be0fbda-094d-4ba7-a562-f641aa33750f.png?v=1744908004","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt136211","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}