{"product_id":"ieej-zt141048","title":"ESD試験におけるプリント基板上パターン導体間フラッシオーバ電圧に及ぼす除電方法の影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-048\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2014\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eInfluence of neutralization way on flashover voltage of the foil conductors on printed wiring board under the ESD test\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e加茂 智士(九州工業大学),園田 将史(九州工業大学),大塚信也 (九州工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTomohito Kamo(Kyushu Institute of Technology),Masashi Sonoda(Kyushu Institute of Technology),Shinya Ohtsuka(Kyushu Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e静電気放電|プリント配線板|フラッシオーバ|除電\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年の電子機器プリント配線のファインパターン化により、雷インパルス電圧や交流、直流電圧に対するプリント配線パターン導体間のフラッシオーバ電圧(FOV)特製の検討が行われている。他方、筆者らはこれまで、電子機器プリント基板の静電気放電(ESD)耐性評価の観点から、IEC61000-4-2に示される静電気試験法によるプリント配線パターン導体間のフラッシオーバ電圧(FOV)特性を検討している。本論文では、静電気試験中の基板上帯電がFO試験における影響を調べるため、複数の試験方法を用いることで基板上の帯電状況を変化させ、試験毎のFOVを調べた。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e176 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46399825838319,"sku":"IEEJ-ZT141048-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_31c2a6cd-b0d2-4ef6-b888-3196c137a659.png?v=1744910176","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt141048","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}