{"product_id":"ieej-zt141127","title":"ノズル内SF6ガス吹付けアーク減衰過程のトムソン散乱計測","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-127\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2014\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eThomson Scattering Measurements of Decaying SF\u003csub\u003e6\u003c\/sub\u003e Gas-Blast Arcs in a Nozzle\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e富田 健太郎(九州大学),清水 陽大(九州大学),合嶋 大輔(九州大学),内野 喜一郎(九州大学),田中 康規(金沢大学),中野 智之(金沢大学),鈴木 克巳(東京電機大学),飯島 崇文(東芝),内井 敏之(東芝),新海 健(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKentaro Tomita(Kyushu University),Takahiro Shimizu(Kyushu University),Daisuke Gojima(Kyushu University),Kiichiro Uchino(Kyushu University),Yasunori Tanaka(Kanazawa University),Tomoyuki Nakano(Kanazawa University),Katsumi Suzuki(Tokyo Denki University),Takanori Iijima(Thoshiba Coporation),Toshiyuki Uchii(Thoshiba Coporation),Takeshi Shinkai(Thoshiba Coporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eレーザトムソン散乱|SF6ガス吹付けアーク|ガス遮断器|アーク減衰過程|電子密度|電子温度\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eノズル内ガス吹付けアーク減衰過程の理解は，ガス遮断器の高性能化に向けて重要である．特に，現在消弧ガスとして広く使用されているSF6ガスの電流遮断後の電子密度は，遮断性能に本質的に関わるため，重要なパラメータである．我々のグループではノズル内ガス吹付けアーク減衰過程の電子密度および電子温度の時間発展計測を，レーザトムソン散乱法を用いて行っている．これまでの研究で既に，Ar\/SF6混合ガスアーク（SF6ガス混入割合は20%以下）の電子密度計測結果を報告している．しかし，SF6ガス割合が増すと，アーク形状が不安定となり，計測が困難となることがわかった．この問題には，トムソン散乱計測用レーザの形状を工夫することで対処した．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e279 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46399841566959,"sku":"IEEJ-ZT141127-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_1621fa9c-b7e6-4e1f-aa51-dcaa49b3aabf.png?v=1744910576","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt141127","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}