{"product_id":"ieej-zt161033","title":"赤外線二次元ロックインアンプを用いた遠隔測定用センシングシステムの開発","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-033\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2016\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDevelopment of a remote Non-Destructive-Testing system using Infrared 2-D Lock-in Amplifier\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e本間 貴也(東京都市大学),齋藤 壮志(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学),落合 啓(情報通信研究機構),前野 恭(情報通信研究機構)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakaya Honma(Tokyo City University),Takeshi Saitoh(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University),Satoshi Ochiai(National Institute of Information and Communications Technology),Takashi Maeno(National Institute of Information and Communications Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e非破壊検査,二次元ロックインアンプ,断熱温度場法\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年、橋梁やトンネルといったインフラ構造物などが設備更新時期を迎えている。比較的容易に診断できる打音法では、足場が必要であるため、検査の非効率性や交通規制の必要性といった問題が挙げられている。これまでに我々は、断熱温度場法に二次元ロックインアンプ処理を適用した新たな非破壊検査装置を開発し、対象物に比較的近い位置で対象物背後の欠陥検出を可能にした。今回は、数m~数十mの比較的遠距離で検出を可能にするため、ハロゲンピンスポットと反射鏡を用いて装置を改良した。その結果、10m離れた位置においても、対象物背後の欠陥を検出することに成功した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e368 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46400701759727,"sku":"IEEJ-ZT161033-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_f7e07e14-7c2c-4941-9239-1588ffdb658a.png?v=1744928049","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt161033","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}