{"product_id":"ieej-zt162011","title":"針－平板電極における部分放電特性の周波数依存性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-011\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2016\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eFrequency characteristics of partial discharges in a needle-plain electrode system.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e對馬 麻美(東北大学),岡本 達希(東北大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eAsami Tsushima(Tohoku University),Tatsuki Okamoto(Tohoku University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e針ー平板電極,部分放電劣化,絶縁高分子材料\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e絶縁高分子材料を用いた高電圧機器は、経年劣化が生じる可能性があるが、その中で部分放電は電気ストレスによる重要な劣化要因として挙げられる。部分放電による劣化診断を行うことは事故防止・機器の有効利用につながるが、現在各種電力機器における課電周波数を高くすることがありその際の部分放電特性が未だ明確でない場合がある。そこで本研究では針－平板電極における各種部分放電特性の課電周波数依存性の検討を行った。今回は先端曲率半径30，300?mの針電極において周波数を50?2000Hzで変化させた際のパルス発生頻度、最大放電電荷、パルス平均φ-q分布と歪度の測定を行い、その結果より周波数依存性はあまり見られないといった結論が得られた。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e534 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46400745767151,"sku":"IEEJ-ZT162011-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_cdc5a9d3-d2ee-403a-b21f-2a82dfdd23b3.png?v=1744928634","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt162011","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}