{"product_id":"ieej-zt162117","title":"磁粉探傷試験におけるき裂定量化の検討","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-117\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2016\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eConsideration of crack quantification in magnetic particle testing\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e福岡 克弘(滋賀県立大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKatsuhiro Fukuoka(The University of Shiga Prefecture)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e磁粉探傷試験,定量化,動画像計測,き裂形状推定,磁粉模様\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e非破壊検査において検出されたき裂の構造強度への影響を判断することは重要であり、そのためにはき裂の形状を定量的に評価する必要がある。しかし、現状の磁粉探傷試験において、定量的な評価手法は未だ確立されていない。本研究では、磁粉探傷試験においてき裂に付着する磁粉模様と、き裂形状（深さ、幅）との関係を評価することにより、磁粉探傷試験の探傷結果からき裂形状を推定する手法に関して検討した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e306 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46400789643503,"sku":"IEEJ-ZT162117-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_c540615b-1fa0-4a35-a28b-e2f6612a53ed.png?v=1744929129","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt162117","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}