{"product_id":"ieej-zt164006","title":"SiC-MOSFETで試作したY字型電力ルータの電力損失特性","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-006\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2016\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003ePower loss characteristics of Y-configuration Power router consisting of SiC-MOSFET\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e笠嶋 亮輔(京都工芸繊維大学),七條 大樹(京都工芸繊維大学),門 勇一(京都工芸繊維大学),和田 圭二(首都大学東京)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKasashima Ryosuke(Kyoto Institute of Technology),Sichijo Daiki(Kyoto Institute of Technology),Kado Yuichi(Kyoto Institute of Technology),Wada Keiji(Tokyo metropolitan university)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eSiC-MOSFET,Y字型電力ルータ,電力損失,3端子絶縁型DC\/DCコンバータ,銅損,鉄損\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eSiC-MOSFETで試作した3端子絶縁型DC\/DCコンバータの電力損失の電力フローパターン依存性を示し、電力損失特性について検討を行い、3端子絶縁型DC\/DCコンバータの全損失の電力フロー依存性を抑制できると考えられる要因を明らかにした。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e633 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46400818610415,"sku":"IEEJ-ZT164006-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_e9b38465-4af3-4d95-a6a9-53376c92bce1.png?v=1744929661","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt164006","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}