{"product_id":"ieej-zt167027","title":"太陽光発電システムの診断法に関する研究-I-V特性によるバイパスダイオードの故障診断法（その5）-","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e7-027\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2016\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eStudy on Diagnostic Method of Photovoltaics System -Method for Failure Evaluation of Bypass Diode by I-V Curve (Part 5)-\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e佐藤 孝俊(名城大学),羽田 健太郎(名城大学),山中 三四郎(名城大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakatoshi Sato(Meijo University),Kentaro Hada(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e太陽光発電システム,保守点検技術,バイパスダイオード,電流電圧特性\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e筆者らは，一つのI-V特性からバイパスダイオードの短絡・開放故障を同時に判定する方法を検討している。これまでに，住宅用太陽光発電システム程度のモジュール直列数であれば，遮光部のバイパスダイオードが一個だけ短絡・開放した場合を判定できる事を示した。この方法では，開放故障はI-V特性の段差の有無により判定できるが，短絡故障はI-V特性から算出する電圧比率により判定を行う。したがって，短絡故障数が増えると，判定が難しくなる事が懸念される。本稿では，遮光部のBPDの短絡故障数を増やした場合に，正常な状態と短絡状態を判定できるか検討した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e190 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46400965378287,"sku":"IEEJ-ZT167027-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_6e1ff66d-48d2-42d9-9ad3-96364de2c6fe.png?v=1744932356","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt167027","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}