{"product_id":"ieej-zt167096","title":"確率論的手法に基づく汚損がいしフラッシオーバ危険率の評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e7-096\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2016\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eProbabilistic Assessment of Risk of Flashover of Contaminated Insulators\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e福原 済真(名古屋工業大学),石川 航也(名古屋工業大学),水野 幸男(名古屋工業大学),前田 元宏(日本ガイシ),近藤 邦明(日本ガイシ),林 朋宏(日本ガイシ)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYoshimasa Fukuhara(Nagoya Institute of Technology),Koya Ishikawa(Nagoya Institute of Technology),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology),Motohiro Maeda(NGK Insulators, Ltd.),Kuniaki Kondo(NGK Insulators, Ltd.),Tomohiro Hayashi(NGK Insulators, Ltd.)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eがいし,汚損,フラッシオーバ,確率論的手法\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e汚損がいし連の合理的設計手法として、汚損フラッシオーバに影響を与える要因の確率分布を用いてフラッシオーバ危険率の評価関数を導出し、表面湿潤のばらつきによる危険率への影響を評価した。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e340 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46400592740591,"sku":"IEEJ-ZT167096-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_449093bc-08ac-433c-ac1a-a66acce0ea79.png?v=1744926805","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt167096","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}