{"product_id":"ieej-zt172041","title":"テラヘルツ分光による室温放射線劣化および熱劣化シリコーンゴムの解析","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-041\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2017\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eTerahertz Spectroscopic Analysis of Silicone Rubber Aged by Heat or Radiation at Room Temperature\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e兼子 拓也(早稲田大学),小高 大祐(早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),大木 義路(早稲田大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTakuya Kaneko(Waseda University),Daisuke Odaka(Waseda University),Naoshi Hirai(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e絶縁材料|電気絶縁|分光分析|劣化診断|酸化|架橋\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eシリコーンゴム（SiR）の室温放射線劣化および熱劣化に伴う吸収の変化をテラヘルツ（THz）分光と赤外分光により解析した。その結果，総線量1460?2130kGyの室温放射線劣化では，分子鎖切断の進行とともにカルボニル基の吸収が増加し，1.0?5.0THzでの吸収の増加が見られる。一方，265℃で600?2382時間の熱劣化では，架橋が進行し，1.1THzでの吸収の減少，4.1，4.6THzでの吸収の増加が見られる。これらのTHz吸収変化の違いにより，分子鎖切断もしくは架橋というSiRの2種類の劣化形態を判別することができる。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e472 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46401225949423,"sku":"IEEJ-ZT172041-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_55eb3b70-9ac2-4db2-b383-99497e640540.png?v=1744937690","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt172041","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}