{"product_id":"ieej-zt172096","title":"高周波伝送線路型プローブによる磁性薄膜の磁気ひずみ計測法の開発","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e2-096\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2017\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDevelopment of New Magnetostriction Measurement by High-Frequency Transmission Line Probe\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e遠藤 恭(東北大学),薮上 信(東北学院大学),森 修(東栄科学産業),内海 良一(東栄科学産業),島田 寛(東栄科学産業)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYasushi Endo(Tohoku University),Shin Yabukami(Tohokugakuin University),Osamu Mori(Toei Scientific Industrial Co., LTD),Ryoichi Utsumi(Toei Scientific Industrial Co., LTD),Yutaka Shimada(Toei Scientific Industrial Co., LTD)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e磁気ひずみ|磁化ダイナミクス|ダンピング定数|応力負荷|高周波伝送線路\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e本研究では，高周波伝送線路型プローブを磁性膜に近接させ，応力負荷による磁気共鳴周波数の変化から磁気ひずみを評価し，同時に磁化ダイナミクスの計測が可能な方法を新たに提案する。磁性薄膜としてこれまで光てこ法およびCPW‐FMR法で磁気ひずみ定数およびダンピング定数を把握済みであるNi-Fe膜を選択し，その基本性能を確認して磁化ダイナミクスとの関係をを議論する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e226 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401231552751,"sku":"IEEJ-ZT172096-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_29e5bf62-1cfc-4548-9fbc-42c77affce4f.png?v=1744937844","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt172096","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}