{"product_id":"ieej-zt173041","title":"3Dスキャナによる点群データのための欠損抽出","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e3-041\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2017\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eA Method of Defect Extraction for Point Clouds by 3Dscanner\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e武田 匡平(大阪工業大学),村木 祐太(大阪工業大学),西尾 孝治(大阪工業大学),小堀 研一(大阪工業大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKyohei Takeda(Osaka Institute of Technology),Yuta Muraki(Osaka Institute of Technology),Koji Nishio(Osaka Institute of Technology),Ken-ichi Kobori(Osaka Institute of Technology)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e3Dスキャナ|点群データ|欠損抽出\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e近年，3Dスキャナの普及に伴い，容易に実物体を点群データで取得することが可能となった．しかし，3Dスキャナは計測位置や角度の影響により，取得データには欠損が生じる．そこで，欠損の抽出を行う研究は多くなされている．しかし，局所的な情報をもとに抽出を行っているため，密度の変化に大きく影響される問題がある．そこで，本研究では点群データにボロノイ分割を適用し，分割した領域の面積から各点が欠損であるかどうかを判定する．この際，全ての領域面積から閾値を決定することで，密度の変化に頑強な手法を提案する．また，抽出した欠損点から誤って抽出した欠損点を除外するため，欠損ごとのグループ化も行う．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e636 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 2","offer_id":46401160118511,"sku":"IEEJ-ZT173041-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_610d28c4-4b30-4f01-851c-194fa11b2da4.png?v=1744936171","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt173041","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}