{"product_id":"ieej-zt174003","title":"IGBT並列駆動時の電流アンバランスの定量的評価","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e4-003\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2017\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eAnalysis of current imbalance of parallel connected IGBTs\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e平野 真希子(東芝),瀧本 和靖(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eMakiko Hirano(Toshiba Corporation),Kazuyasu Takimoto(Toshiba Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eIGBT|電流アンバランス|配線インダクタンス\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003eスイッチング素子を並列接続して使用する際に、素子特性のばらつきや導体構造により素子間の電流アンバランス等が発生すると、突発的な破壊や素子寿命の短縮の原因となる。故に、導体構造や素子特性が電流アンバランスに与える影響を定量的に把握し、設計で活用できる手法を確立することが望まれる。本稿ではIGBTをモチーフに、並列駆動時におけるターンオフ時の電流アンバランスと接続位置との関係に着目して検討した。その結果、配線インダクタンスがターンオフ損失に大きく影響することが分かった。今後、IGBTのみならず、各種スイッチング素子の応用設計に活かしていく。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e237 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401156514031,"sku":"IEEJ-ZT174003-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_e037c6df-6e6c-40a0-87fa-f360f0b4764b.png?v=1744936049","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt174003","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}