{"product_id":"ieej-zt176030","title":"直流送電向けハイブリッド直流遮断器の遮断試験法の開発","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-030\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2017\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eDevelopment of Breaking test method of Hybrid DCCB for HVDC Transmission System\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e橋本 優平(東芝),宮崎 健作(東芝),種子田 賢宏(東芝),乙幡 将吾(東芝),飯尾 尚隆(東芝)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eYuhei Hashimoto(Toshiba Corporation),Kensaku Miyazaki(Toshiba Corporation),Takahiro Taneda(Toshiba Corporation),Shogo Oppata(Toshiba Corporation),Naotaka Iio(Toshiba Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e多端子直流送電システム|ハイブリッド直流遮断器|遮断試験\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e多端子直流送電システム上では，数msで事故点除去が可能な直流遮断器が必要となる．その中で，東芝はNEDOの委託業務を通じて機械遮断部と半導体遮断部を並列構成した低損失なハイブリッド直流遮断器の開発を進めている．これを実現するためには新しい試験法が必要であり，本稿では開発した試験法の原理と試験結果について報告する．\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e217 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46400538738927,"sku":"IEEJ-ZT176030-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_745847c0-5d1e-4ad1-8ef3-dd99135d9683.png?v=1744926209","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt176030","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}