{"product_id":"ieej-zt177011","title":"Hot spotの発生した太陽電池モジュールのEL画像の考察","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e7-011\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2017\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eConsideration of EL image of the solar cell module with hot spot.\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e竹下 隆一朗(名城大学),山中 三四郎(名城大学),青山 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eRyuichiro Takeshita(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Yasuhiro Aoyama(TOENEC CORPORATION),Yuki Nishido(TOENEC CORPORATION),Hiroshi Kobayashi(TOENEC CORPORATION)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e太陽光発電システム|EL画像\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e現在，太陽電池モジュール（以下，モジュール）の診断方法としてI-V特性，熱画像が使用されているが，近年ではEL画像という新たな手法が用いられるようになった。EL画像とは太陽電池に強制的に電流を流し，目には見えない不具合を発見する手法であるしかし，EL画像について明らかになっていないことは多い。筆者らはEL画像から得られる情報を明らかにするため，本報ではホットスポットが発生したモジュールのEL画像の考察を行ったので報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e250 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401115783407,"sku":"IEEJ-ZT177011-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_e312e9d4-e525-4160-92e2-0000279c8613.png?v=1744935308","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt177011","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}