{"product_id":"ieej-zt181036","title":"TEMセルを用いた暗号モジュールへの故障注入攻撃の定量的耐性評価環境の構築","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-036\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2018\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eProposal of evaluation environment using TEM cell for quantitative evaluation of fault analysis\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e鈴木 太陽(東北学院大学),林 優一(奈良先端科学技術大学院大学),石上 忍(東北学院大学),川又 憲(東北学院大学),嶺岸 茂樹(東北学院大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTaiyo Suzuki(Tohoku Gakuin University),Yuichi Hayashi(Nara Institute of Science and Technology),Shinobu Ishigami(Tohoku Gakuin University),Ken Kawamata(Tohoku Gakuin University),Shigeki Minegishi(Tohoku Gakuin University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e意図的な電磁妨害,故障利用解析,電磁情報セキュリティ\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e現在、暗号モジュールの故障利用解析に用いられる故障注入手法として、パルス波や連続波を与える手法などが報告されている。しかし、このような既存の手法では、周囲の電磁環境の変化に伴い、解析と併せた評価結果に差異が現れる。そこで本研究では、環境の変化に影響されない手法として、TEMセル(Transverse Electro-Magnetic Cell)を用いて周囲の電磁界から測定環境を分離し、定量的な電界を発生させる空間を作ることで、再現性の高い評価環境の提案を行うとともに、暗号機器をTEMセル内に発生させた電界に曝し、故障が発生する割合を比較することで、提案した評価環境の有効性を検証する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e657 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401492320495,"sku":"IEEJ-ZT181036-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_64338913-e557-44f2-9e09-d49ffefe56a6.png?v=1744945960","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt181036","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}