{"product_id":"ieej-zt181179","title":"ナノ秒パルス電界印加によるシロイヌナズナへの影響","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-179\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2018\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eEffect of nanosecond pulsed high electric field on Arabidopsis thaliana\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e猪原 哲(佐賀大学),白石 将平(佐賀大学)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eSatoshi Ihara(Saga University),Shouhei Shiraishi(Saga University)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003eナノ秒パルス電界,突然変異,シロイヌナズナ,DNA損傷\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e高電界ナノ秒パルス印加によるシロイヌナズナのDNA変異を調べるための予備実験として，ナノ秒パルス電界の発芽率への影響を調べた。発芽率のピークは印加電界200kV\/cmでは76%、100kV\/cmでは74%の発芽率だった。また，印加回数によって発芽率が50 %程度，まで減少することが分かった。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e397 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401462698223,"sku":"IEEJ-ZT181179-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_f91ac823-b27b-471b-b633-5d6e0e647728.png?v=1744943755","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt181179","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}