{"product_id":"ieej-zt186025","title":"真空開閉器用接点材料の遮断性能簡易評価法","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e6-025\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2018\/03\/05\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eSimple Evaluation Method for Screening Interrupting Capability of Contact Materials in Vacuum\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e道念 大樹(三菱電機),谷原 康友(三菱電機),高井 雄一(三菱電機),越智 聡(三菱電機)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eTaiki Donen(Mitsubishi Electric),Yasutomo Tanihara(Mitsubishi Electric),Yuichi Takai(Mitsubishi Electric),Satoshi Ochi(Mitsubishi Electric)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e真空開閉器,接点材料,遮断性能,通電電荷量,絶縁破壊電界\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e真空開閉器用の接点開発において、遮断性能のスクリーニングを高効率・高精度に行う評価法は近年でもしばしば関心を引くテーマである。本報告では、簡易な直接試験回路を用いて短時間で評価可能な試験方法について報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e444 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401609335023,"sku":"IEEJ-ZT186025-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_6d4142bc-142a-45cf-a207-b53ef209d1c1.png?v=1744949501","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt186025","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}