{"product_id":"ieej-zt191054","title":"磁場顕微鏡を用いたリチウムイオン電池のショート箇所特定","description":"\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eカテゴリ: \u003c\/strong\u003e全国大会\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e論文No: \u003c\/strong\u003e1-054\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eグループ名: \u003c\/strong\u003e【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e発行日: \u003c\/strong\u003e2019\/03\/01\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eタイトル(英語): \u003c\/strong\u003eNon-destructively locating internal short spots inside lithium ion cells with a magnetic field microscope\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名: \u003c\/strong\u003e鈴木 一博(東芝ナノアナリシス),堤 雅義(東芝ナノアナリシス),照井 裕二(東芝ナノアナリシス)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e著者名(英語): \u003c\/strong\u003eKazuhiro Suzuki(Toshiba Nanoanalysis Corporation),Masayoshi Tsutsumi(Toshiba Nanoanalysis Corporation),Yuji Terui(Toshiba Nanoanalysis Corporation)\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eキーワード: \u003c\/strong\u003e磁場顕微鏡,リチウムイオン電池,ショート,非破壊解析\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e要約(日本語): \u003c\/strong\u003e最近、ショート箇所特定技術として、磁場顕微鏡を用いる手法が提案されている。本研究では、磁場顕微鏡を用いたリチウムイオン電池のショート箇所特定の事例について報告する。\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003e原稿種別: \u003c\/strong\u003e日本語\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003ePDFファイルサイズ: \u003c\/strong\u003e328 Kバイト\u003c\/p\u003e","brand":"IEEJ-PDF","offers":[{"title":"PDFダウンロード（一般価格440円\/会員価格220円） \/ A4 \/ 1","offer_id":46401709244655,"sku":"IEEJ-ZT191054-PDF","price":440.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0718\/9512\/2159\/files\/IEEJ-PDF_408a7b20-32c6-4f46-8571-0295a0182900.png?v=1744951797","url":"https:\/\/ieej.bookpark.ne.jp\/products\/ieej-zt191054","provider":"電気学会 電子図書館","version":"1.0","type":"link"}